德國HUBER快速X射線粉末衍射儀，高精度的機(jī)械加工，ji大限度地豐富了X射線衍射儀的使用場景，擴(kuò)大了使用范圍，該系統(tǒng)可分別實(shí)現(xiàn)“微量、高壓、高溫、超低溫、單晶測量”等全部要求。

Guinier超微量高精X射線粉末衍射儀運(yùn)用成像板技術(shù)，通過成熟的工藝技術(shù)，配合超微量樣品臺Capillary Sample Holder 670.2，可對微克級粉末樣品進(jìn)行X射線測量。

以下將詳細(xì)介紹以Guinier Camera G670與Capillary Sample Holder 670.2為核心構(gòu)造的超微量高精X射線粉末衍射儀。

*的成像板技術(shù)

由聚酯制成的柔性安裝箔上涂有由晶體組成的均勻粉末的發(fā)光存儲材料(顆粒大小約0.005mm)，即由氟化鋇和微量二價(jià)銪組成的光刺激熒光粉作為發(fā)光中心(BaFBr:Eu2+)。

圖像存儲箔片位于Guinier相機(jī)670中，敏感面向內(nèi)，jing確地對準(zhǔn)在半徑為90mm的焦圓上。它的曝光方式與以前使用的濕法影印技術(shù)相同。之后，在約5秒的時間內(nèi)，用垂直的線性紅色二極管產(chǎn)生的激光束掃描成像板。

由此產(chǎn)生的藍(lán)色光激勵發(fā)光(PSL)從受X射線照射的區(qū)域發(fā)出，在掃描過程中由光電倍增管放大，然后記錄。初始的模擬信號通過一個16位的A /D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字計(jì)數(shù)。

通過白色鹵素?zé)?，可以?0秒內(nèi)擦除已儲存的圖像結(jié)構(gòu)，并支持下一次成像。

除圖像存儲箔外，670相機(jī)的外殼還包括帶有光電倍增管和前置放大器的激光記錄單元，以及鹵素擦除燈。

這款Guinier粉末衍射儀集成了傳統(tǒng)的濕法影印技術(shù)的高分辨率，及圖像板檢測技術(shù)的高靈敏度。因此，它能夠在盡可能短的時間內(nèi)提供數(shù)字粉末衍射圖，然后可以通過Rietveld分析或類似的方法進(jìn)一步處理。

所提供的測量軟件在MS-Windows下運(yùn)行，并將多可達(dá)20001個計(jì)數(shù)點(diǎn)的衍射圖文件存儲成各類標(biāo)準(zhǔn)文件格式。

超微量試樣架

Capillary Sample Holder 670.2

    由于毛細(xì)管試樣架只占X射線橫斷面的10%左右，折射線的強(qiáng)度比平面樣品小一個數(shù)量級。此外，毛細(xì)試樣架的樣品厚度從0.2毫米增加到0.5毫米，導(dǎo)致折射線的寬度增加。盡管如此，由于優(yōu)化了G670的幾何結(jié)構(gòu)及其高分辨率的檢測方法，仍然可獲取高分辨率的衍射譜。

    首先，黃銅管上安裝微管樣品槽，并安裝在一個可調(diào)測角儀頭部。其次，用顯微鏡將樣品旋轉(zhuǎn)居中，然后安裝在樣品夾上。樣品夾包含一個小的直流電機(jī)，使毛細(xì)管試樣架以60revs/min旋轉(zhuǎn)。

樣品裝填工具

Capillary Boy 670.21

      填充毛細(xì)管試樣架曾經(jīng)是一項(xiàng)費(fèi)時費(fèi)力的工作。有了Capillary Boy，將十分方便。

將毛細(xì)管試樣架安裝在振蕩器上，震動使粉末輕輕落下。只需轉(zhuǎn)動一個旋鈕，您就可以調(diào)節(jié)振蕩器的頻率，以配合每一個微管樣品槽/粉末組合的需要。這將使平均制樣時間減少到1-2分鐘，具體情況視粉末而定。

※輕松裝樣

※有效降低樣品槽損壞率 ※減少每次分析的成本

※每裝樣一次可節(jié)省15分鐘

G670的主要技術(shù)參數(shù)：

計(jì)數(shù)點(diǎn)(max.)：20001

2-Theta范圍 (max.) ：100°

2-Theta 步長：0.005°

A/D 分辨率：16 Bit

動態(tài)范圍(multi-scan)：~200000 counts

讀出時間：<5 sec

擦除時間：10 sec

焦圓半徑：90 mm.

硬件要求

X射線光源：0.4*8 mm2垂直細(xì)線焦點(diǎn)

臺面以上橫梁高度：~275mm

桌面面積：~600*500mm2

19”機(jī)架，3個高度單位

該系統(tǒng)以Guinier高分辨率相機(jī)與Capillary Sample Holder 670.2為主要核心組件，通過在此基礎(chǔ)上搭建的系統(tǒng)，以響應(yīng)客戶對超微量粉末試樣進(jìn)行高精度測量的需求。